能量过滤低温透射电子显微镜
| 厂 家： | 日本电子（JEOL） |
| 型 号： | JEM-F200 |
| 主要技术指标： | 加速电压：最高200kV |
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点分辨率：0.27nm |
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晶格分辨率：0.14nm |
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STEM分辨率：0.2nm； |
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能量分辨率：0.3eV |
| 联 系 人： | 梁国涛 |
| 电 话： | 020-89851124 |
能量过滤低温透射电子显微镜
| 厂 家： | 日本电子（JEOL） |
| 型 号： | JEM-F200 |
| 主要技术指标： | 加速电压：最高200kV |
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点分辨率：0.27nm |
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晶格分辨率：0.14nm |
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STEM分辨率：0.2nm； |
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能量分辨率：0.3eV |
| 联 系 人： | 梁国涛 |
| 电 话： | 020-89851124 |
应用情况
能量过滤低温透射电子显微镜可涵盖物理学、材料科学、生物学等学科领域，表征有机及无机材料的微观结构，分析晶体结构、物相及化学成分。可测试样品高分辨TEM图像，进行样品EDS谱图测试及分析、样品EELS谱图测试及分析等。
地址：广东省广州市黄埔区新龙镇航空轮胎大科学中心-广东粤港澳大湾区黄埔材料研究院
电话: 020-89851124
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