电感耦合等离子体质谱仪
| 厂 家： | 安捷伦（Agilent） |
| 型 号： | 7900 ICP-MS |
| 主要技术指标： | 氧化物产率：（CeO+/Ce+）≤3.0% |
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短期稳定性：（RSD）≤3% （20 min） |
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短期稳定性：（RSD）≤3% （20 min） |
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长期稳定性：（RSD）≤4% （2 h） |
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灵敏度： 7Li ≥50 M cps/ppm 89Y ≥320 M cps/ppm 205Tl ≥130 M cps/ppm |
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检测限： 9Be ≤ 0.3 ppt 115In ≤ 0.05 ppt 209Bi ≤ 0.1 ppt |
| 联 系 人： |
梁国涛 |
| 电 话： | 020-89851124 |
应用情况
专门为半导体行业和高纯金属非金属材料行业应用而设计，特别适合安装于超净室内，适应半导体行业特定要求的各种超痕量杂质元素分析要求；仪器分析对象包括多晶硅、单晶硅片、高纯金属非金属等各种材料，各种超高纯酸、高纯碱、高纯有机溶剂、高纯混合试剂等既是分析对象，也是实验必须的常用试剂；每秒可完成 10000 次独立测量，可为瞬时信号的准确分析提供极短的积分时间。最新一代 ICP-MS MassHunter 软件具有直观的控制面板设计，还可以使用远程监控应用程序随时随地监测与控制 ICP-MS 仪器，增强了灵活性。超高基质进样系统 (UHMI) 技术结合了可选的集成进样系统 (ISIS 3) 以及 ODS，可以在最宽的动态范围内分析并定量几乎任何样品，避免了因超量程结果而不得不重新分析所耗费的额外时间及成本。
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